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IC外观检测系统

产品分类: 机器视觉应用系统

    在IC制作、测试及包装过程中,元器件的检测是一个必不可少的环节。传统的工件检测主要是通过人工识别,浪费了很多的人工成本,并且避免不了的是人眼的疲劳检测,给产品质量加入了很多不确定因素。机器视觉系统通过一系列的算法,可以实现工件的正反检测,零件批号、字符检,以及IC针脚外观缺陷。IC外观检测系统既可保证高可靠性,又可以保证产品检测的一致性,大大提高了工厂的生产效率,节省了人工。


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    方案简述

    在IC制作、测试及包装过程中,元器件的检测是一个必不可少的环节。传统的工件检测主要是通过人工识别,浪费了很多的人工成本,并且避免不了的是人眼的疲劳检测,给产品质量加入了很多不确定因素。机器视觉系统通过一系列的算法,可以实现工件的正反检测,零件批号、字符检,以及IC针脚外观缺陷。IC外观检测系统既可保证高可靠性,又可以保证产品检测的一致性,大大提高了工厂的生产效率,节省了人工。


    系统功能

    1.检测料带型腔内是否存在IC;

    2.检测料带内IC 是否放反;

    3.读取IC表面字符是否与设定字符一致,并且根据不同结果对元件剔除;

    4.检测IC针脚是否变形或残缺;

    5.系统检测速度<=0.1秒/pcs(根据不同配置方案而定)。

    IC外观检测系统.jpg

    IC外观检测系统1.jpg



    系统原理

    本系统通过图像系统自动对视野范围内的IC芯片进行寻找预先设定的特征,再通过软件算法计算IC的方向、字符特征以及尺寸和表面是否有缺陷等,并进行响应的判断给出结果。本系统自动检测IC表面特征,读取IC表面的字符并与设定字符串进行比对、判断,给出结果并进行相应的数据统计。


    系统配置

    IC外观检测系统2.png

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